相關(guān)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
1. gb/t 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
2. gb/t 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備（僅溫濕度控制型）
3. gb/t 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4. gb/t 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
5. gb/t 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件（僅溫濕度控制型）
6. gb/t 2423.1-2008 idt iec 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)a：低溫
7. gb/t 2423.2-2008 idt iec 60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)b：高溫
8. gb/t 2423.3-2006 idt iec 60068-2-78:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)cab：恒定濕熱試驗(yàn)（僅溫濕度控制型）
9. gb/t 2423.4-2008 idt iec 60068-2-30:2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)db：交變濕熱試驗(yàn)（12h+12h循環(huán)）（僅溫濕度控制型）
10.gb/t 2424.5-2006 idt iec 60068-3-5:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
11.gb/t 2424.6-2006 idt iec 60068-3-6:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)（僅溫濕度控制型）
12.gjb 150.3-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)
13.gjb 150.4-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)
14.gjb 150.9-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)（僅溫濕度控制型）
注：（每立方米負(fù)載不大于35kg/m3鋼的熱容量，濕熱試驗(yàn)時(shí)無承受有源熱負(fù)載）