現(xiàn)在的電子產(chǎn)品往往由于一塊集成電路損壞，導(dǎo)致一部分或幾個(gè)部分不能正常工作，影響設(shè)備的正常使用。那么如何檢測(cè)集成電路的好壞呢?
通常一臺(tái)設(shè)備里面有許多個(gè)集成電路，當(dāng)拿到一部有故障的集成電路的設(shè)備時(shí)，首先要根據(jù)故障現(xiàn)象，判斷出故障的大體部位，然后通過(guò)測(cè)量，把故障的可能部位逐步縮小，最后找到故障所在。
要找到故障所在必須通過(guò)檢測(cè)，通常修理人員都采用測(cè)引腳電壓方法來(lái)判斷，但這只能判斷出故障的大致部位，而且有的引腳反應(yīng)不靈敏，甚至有的沒(méi)有什么反應(yīng)。就是在電壓偏離的情況下，也包含外圍元件損壞的因素，還必須將集成塊內(nèi)部故障與外圍故障嚴(yán)格區(qū)別開(kāi)來(lái)，因此單靠某一種方法對(duì)集成電路是很難檢測(cè)的，必須依賴(lài)綜合的檢測(cè)手段。
一、常用的集成電路檢測(cè)方法
1．不在路檢測(cè)
在ic未焊入電路時(shí)進(jìn)行的，一般情況下可用萬(wàn)用表測(cè)量各引腳對(duì)應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ic進(jìn)行比較。
2．在路檢測(cè)
在路檢測(cè)這是一種通過(guò)萬(wàn)用表檢測(cè)ic各引腳在路(ic在電路中)直流電阻、對(duì)地交直流電壓以及總工作電流的檢測(cè)方法。這種方法克服了代換試驗(yàn)法需要有可代換ic的局限性和拆卸ic的麻煩，是檢測(cè)ic最常用和實(shí)用的方法。
3．代換法
代換法是用已知完好的同型號(hào)、同規(guī)格集成電路來(lái)代換被測(cè)集成電路，可以判斷出該集成電路是否損壞。
４．總電流測(cè)量法
該法是通過(guò)檢測(cè)ic電源進(jìn)線(xiàn)的總電流，來(lái)判斷ic好壞的一種方法。由于ic內(nèi)部絕大多數(shù)為直接耦合，ic損壞時(shí)(如某一個(gè)pn結(jié)擊穿或開(kāi)路)會(huì)引起后級(jí)飽和與截止，使總電流發(fā)生變化。所以通過(guò)測(cè)量總電流的方法可以判斷ic的好壞。也可用測(cè)量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計(jì)算出總電流值。以上檢測(cè)方法，各有利弊，在實(shí)際應(yīng)用中最好將各種方法結(jié)合起來(lái)，靈活運(yùn)用。
二、常用集成電路的檢測(cè)
1．微處理器集成電路的檢測(cè)
微處理器集成電路的關(guān)鍵測(cè)試引腳是vdd電源端、reset復(fù)位端、xin晶振信號(hào)輸入端、xout晶振信號(hào)輸出端及其他各線(xiàn)輸入、輸出端。在路測(cè)量這些關(guān)鍵腳對(duì)地的電阻值和電壓值，看是否與正常值（可從產(chǎn)品電路圖或有關(guān)維修資料中查出）相同。
不同型號(hào)微處理器的reset復(fù)位電壓也不相同，有的是低電平復(fù)位，即在開(kāi)機(jī)瞬間為低電平，復(fù)位后維持高電平；有的是高電平復(fù)位，即在開(kāi)關(guān)瞬間為高電平，復(fù)位后維持低電平。
2．開(kāi)關(guān)電源集成電路的檢測(cè)
開(kāi)關(guān)電源集成電路的關(guān)鍵腳電壓是電源端（vcc）、激勵(lì)脈沖輸出端、電壓檢測(cè)輸入端、電流檢測(cè)輸入端。
測(cè)量各引腳對(duì)地的電壓值和電阻值，若與正常值相差較大，在其外圍元器件正常的情況下，可以確定是該集成電路已損壞。
內(nèi)置大功率開(kāi)關(guān)管的厚膜集成電路，還可通過(guò)測(cè)量開(kāi)關(guān)管c、b、e極之間的正、反向電阻值，來(lái)判斷開(kāi)關(guān)管是否正常。
3．音頻功放集成電路的檢測(cè)
檢查音頻功放集成電路時(shí)，應(yīng)先檢測(cè)其電源端（正電源端和負(fù)電源端）、音頻輸入端、音頻輸出端及反饋端對(duì)地的電壓值和電阻值。
若測(cè)得各引腳的數(shù)據(jù)值與正常值相差較大，其外圍元件與正常，則是該集成電路內(nèi)部損壞。對(duì)引起無(wú)聲故障的音頻功放集成電路，測(cè)量其電源電壓正常時(shí)，可用信號(hào)干擾法來(lái)檢查。測(cè)量時(shí)，萬(wàn)用表應(yīng)置于r×1檔，將紅表筆接地，用黑表筆點(diǎn)觸音頻輸入端，正常時(shí)揚(yáng)聲器中應(yīng)有較強(qiáng)的“喀喀”聲。
4．運(yùn)算放大器集成電路的檢測(cè)
用萬(wàn)用表直流電壓檔，測(cè)量運(yùn)算放大器輸出端與負(fù)電源端之間的電壓值（在靜態(tài)時(shí)電壓值較高）。
用手持金屬鑷子依次點(diǎn)觸運(yùn)算放大器的兩個(gè)輸入端（加入干擾信號(hào)），若萬(wàn)用表表針有較大幅度的擺動(dòng)，則說(shuō)明該運(yùn)算放大器完好；若萬(wàn)用表表針不動(dòng)，則說(shuō)明運(yùn)算放大器已損壞。
5．時(shí)基集成電路的檢測(cè)
時(shí)基集成電路內(nèi)含數(shù)字電路和模擬電路，用萬(wàn)用表很難直接測(cè)出其好壞。可以用測(cè)試電路來(lái)檢測(cè)時(shí)基集成電路的好壞。測(cè)試電路由阻容元件、發(fā)光二極管led、6v直流電源、電源開(kāi)關(guān)s和8腳ic插座組成。
將時(shí)基集成電路（例如ne555）插信ic插座后，按下電源開(kāi)關(guān)s，若被測(cè)時(shí)基集成電路正常，則發(fā)光二極管led將閃爍發(fā)光；若led不亮或一直亮，則說(shuō)明被測(cè)時(shí)基集成電路性能不良。