環(huán)境應(yīng)力篩選是一種工藝手段，使通過向電子產(chǎn)品施加合理的環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力，將其內(nèi)部的潛在缺陷加速變成故障，并通過檢驗發(fā)現(xiàn)和排除故障的過程。
環(huán)境應(yīng)力篩選試驗主要有以下情形，在電子產(chǎn)品上施加隨機振動及溫度循環(huán)應(yīng)力，以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期失效的一種工序或方法。
為發(fā)現(xiàn)和排除不良零件、元器件、工藝缺陷和防止出現(xiàn)早期失效，在環(huán)境應(yīng)力下所做的一系列試驗。
為暴露產(chǎn)品的薄弱部分及質(zhì)量缺陷，在環(huán)境應(yīng)力下所做的一系列試驗。
在環(huán)境應(yīng)力作用下的一系列試驗，目的是暴露薄弱部件及工藝缺陷，以便糾正。
主要依據(jù)的試驗標準有
gjb1032-90
gjb451-90
mil-std-721c-81
mil-std-785b-80